Методы рентгеновского рассеяния — это семейство неразрушающих аналитических методов, которые раскрывают информацию о кристаллической структуре, химическом составе и физических свойствах материалов и тонких пленок. Эти методы основаны на наблюдении за интенсивностью рассеянного рентгеновского пучка, падающего на образец, в зависимости от угла падения и рассеяния, поляризации и длины волны или энергии.
Обратите внимание, что дифракция рентгеновских лучей иногда рассматривается как разновидность рассеяния рентгеновских лучей, где рассеяние является упругим, а рассеивающий объект является кристаллическим, так что полученная картина содержит острые пятна, проанализированные с помощью рентгеновской кристаллографии (как на рисунке). ). Однако и рассеяние, и дифракция — связанные общие явления, и различие существовало не всегда. Так, классический текст Гинье 1963 года озаглавлен «Дифракция рентгеновских лучей в кристаллах, несовершенных кристаллах и аморфных телах», так что в то время «дифракция» явно не ограничивалась кристаллами.
Методы рассеяния
Упругое рассеяние
Неупругое рентгеновское рассеяние (IXS)
В IXS отслеживаются энергия и угол неупруго рассеянных рентгеновских лучей, что дает динамический структурный фактор . Из этого можно получить множество свойств материалов, причем конкретное свойство зависит от масштаба передачи энергии. Приведенная ниже таблица, в которой перечислены методы, адаптирована из. Неупруго рассеянные рентгеновские лучи имеют промежуточные фазы и поэтому в принципе бесполезны для рентгеновской кристаллографии. На практике рентгеновские лучи с малыми передачами энергии включаются в пятна дифракции из-за упругого рассеяния, а рентгеновские лучи с большими передачами энергии вносят вклад в фоновый шум в дифракционной картине.
